返回列表 X-Ray射線檢測(cè) 在不損壞被檢物前提下使用X射線穿透來(lái)檢測(cè)電子元器件、半導(dǎo)體封裝產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)構(gòu)造品質(zhì)、以及SMT各類(lèi)型焊點(diǎn)焊接質(zhì)量等。 返回列表 相關(guān)產(chǎn)品 XR-2000